顯微分光膜厚量測儀
產品型號:OPTM series
產品分類:PLP面板級封裝設備/材料
廠商名稱:大塚科技股份有限公司
攤位號碼:L222
產品特色
◎非接觸式膜厚測定必要的機能集中在一個量測頭
◎顯微分光下廣範圍的光學系統(紫外 ~ 近紅外),最小對應spot約3μm
◎高精度、高再現性量測,絕對反射率光譜,分析多層薄膜厚度、光學常數(n:折射率、k:消光係數)
◎單點對焦加量測於1秒內完成
◎初學者也能輕鬆解析的初學者解析模式
◎獨立測定頭對應各種inline客製化需求
媲美橢圓偏光儀的極薄膜量測表現(1nm~),
遠超橢圓偏光儀的超高速量測速度(1秒/點),
遠小於橢圓偏光儀的聚焦量測面積(最小3μm)。
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