光波動場3D顯微鏡

【高速2秒測量⚡】奈米級非接觸3D量測 ⭕無需逐層對焦・自由觀察任意深度⭕

nｍ等級的透明異物・缺陷量測評價
不僅只於表面，1次取樣瞬間取得深度方向(3D)的情報
無需對焦即可高速量測
非破壞・非接觸・非侵入式量測
輕鬆掃描量測面內任意位置深度
適用於TGV或是光學膜等面板材料量測