CSI AFM/全球最佳電性量測AFM (高解析PFM/KFM/EAFM/CAFM/SThM ) KPFM表面電位量測

產品型號：Nano observer, ResiScope II AFM

產品分類：

攤位號碼：M334

產品特色

主要特點:
1. 完整且強大的電性量測功能與擴充性（PFM壓電力/KFM 表面電位/EFM 靜電力/CAFM 導電/SThM 顯微熱傳導量測等）
2. 獨家專利技術高解析KFM--極高的解析度，提高表面電位的測量靈敏度。　　　　　　　　
3. 透過ResiScopeTM模式掃描（可獲得10個數量級的電流、電阻資訊）
4. 免更換掃描器，大範圍掃描，樣品相容性極佳，XY :100 μm，Z: 15 μm (±10%)，高解析度(最高可達8192*8192)，輕鬆取得分子級影像
5. 研發與品保進行故障分析、品質檢定、電性分析、力學檢測的重要工具

目的:
提供三維表面形態影像，還有分析電特性(CAFM、KFM表面電位檢測)、電場(EFM)和磁場（MFM）、SThM (顯微熱傳導量測)、Adhesion, Stiffness, Young’s Modulus

品牌: CSI
型號:Nano-Observer

累積了20年的經驗，法國CSI研發了這款高性能AFM "Nano-Observer"
Nano_Observer AFM 可以提供所有測量模式，且同時適用於更尖端、複雜的研究，尤其以電學量測技術更領先全球各大品牌，
獨家專利的高解析KPFM(表面電位量測)技術(HD-KFM)讓您輕鬆快速取得高畫質結果，給您前所未有的體驗。

除了高性能，Nano-Observer同時擁有多種先進的模式，可以擴大你的研究領域。除了contact/LFM and Oscillating/ Phase imaging模式之外，還有分析電特性(CAFM)、電場(EFM)和磁場（MFM）、SThM (Thermal conductivity & temperature measurements 熱傳導溫度測量)

此外CSI 的電學量測控制器，ResiScope II AFM 是一種獨特的雙測量系統，能夠以高分辨率和靈敏度測量 10個數量級以上的電流和電阻。
它可以與多種動態模式整合，如 KFM 單通道 (AC/MAC III) 或 MFM/EFM (AC/MAC 模式)，在同一掃描區域提供許多樣品特徵。

通過在導電 AFM 探針（接觸模式）和樣品之間使用直流偏置，可以進行測量。尖端使用 AFM 反饋的雷射偏轉以接觸模式掃描。 ResiScope II 是一個獨立的測量系統，可以通過高性能放大器 (HPA) 測量樣品電阻。

各種應用：
半導體
金屬
太陽能
薄膜&塗層
蛋白質
DNA
高分子聚合物

Specifications
XY scan range 100 μm (tolerance +/- 10%)
Z range 15 μm (tolerance +/- 10%)
XY drive resolution 24 bit control - 0.06 Angströms
Z drive resolution 24 bit control - 0.006 Angströms
Ultra low noise HV Typ : <0.01 mV RMS
6 DAC Outputs 6 D/A Converters – 24 bit
(XYZ drive, bias, aux…)
8 ADC Inputs 8 A/D Converters – 16 bit
Data points Up to 8192
Integrated Lock-in Up to 6 MHz (software limited)
2nd lock-in (6 MHz-optional)
Interface USB (2.0 - 3.0 compatible)
Controller Power AC 100 – 240 V - 47-63 Hz
Operating System Windows 7 to 10

Menu

CSI AFM/全球最佳電性量測AFM (高解析PFM/KFM/EAFM/CAFM/SThM ) KPFM表面電位量測

產品特色

相關產品

人氣產品專區