0 MicroLED AOI 系統 產品分類:檢測 廠商名稱:惠特科技股份有限公司 攤位號碼:L532 產品特色 透過影像辨識標記NG晶粒 相關產品 MicroLED 測試系統 您可能有興趣的產品 體視顯微鏡 微型光纖光譜儀 自動凝膠化時間測定裝置 微檢測系統 色彩照度計、照度計 色彩分析儀 CA-410 系列 色彩分析儀 CA-527 面板智動化檢測設備|自動化|AOI檢測-Apacer 宇瞻科技 雷射表面輪廓儀 PF-60 可攜式二維拉曼成像光譜系統 近紅外光纖光譜儀 閃點測試儀 內嵌式巨觀自動檢測系統 PMA-12 光子多通道分析儀 THOUSLITE LEDCube & LEDView Broadband Spectroradiometer specbos 1211 紅外線能量分部測定儀 全周輪廓量測儀 MLP-3 分光輻射亮度計 CS-3000HDR/CS-3000 積分球 2D輝度色度分析儀 推掃式紅外高光譜 Wafer Inspection 便攜式分光光度計 CM-26d Micro LED 全區域光學量測解决方案 人氣產品專區 ITO图案玻璃 Instrument Systems DMS 顯示測量系統 LumiTop 成像光度色度計 LumiTop AR/VR 近眼顯示器測量 電容式ITO透明導電膜 無膠型超薄銅軟性銅箔基板 卷對卷真空濺射鍍膜代工服務 石墨銅箔散熱膜 透明顯示屏材料-無膠型PET鍍銅膜 客製化PET/PI鍍銅膜-VR設備輕量化材料 客製化卷對卷濺鍍柔性電極薄膜材料 客製化濺鍍型奈米銅導電薄膜材料 昂筠超薄載板銅箔 (附載體可撕型超薄銅箔) 電阻式ITO透明導電膜 杜邦LED 封裝膠 有研稀土螢光粉 面板材料全方位解決方案 手持式裝置膠材應用解決方案 Zymet晶片邊膠粘結劑 DV2T 數字型黏度計(觸控操作) SA-5500 電腦分光式色差計 ASA-2長光路分光式透過色測量儀 Genesys 150 紫外光/可見光分光光度計 NDH-7000SPII 大尺寸樣品用開放式霧度計 Fuji FCV-100 超音波式黏度計 SD-4000 分光式色差儀 / 光譜儀 COH-5500 分光透過率/色差/油色/霧度測試儀 NDH-8000 大尺寸樣品用霧度計 NE-5500桌上型色差計 / 色差儀 回列表