先進光電探測器量子效率與參數分析

 

產品型號：APD-QE

產品分類：智慧製造 - 系統整合

廠商名稱：光焱科技股份有限公司

攤位號碼：L510

 

產品特色

 

- 使用均勻光斑的「照度模式」（Irradiance Mode） 符合ASTM E1021
- 取代傳統聚焦小光斑，可以測試 um 等級的光電偵測器。
- 均勻光斑可以克服色散差與像差的問題，可準確測得 EQE 曲線
- 可搭配多種探針台系統，實現非破壞性的快速測試。
- 整合光學與測試系統，提高系統搭建效率。
- 一鍵式自動化測試軟體，自動全光譜校正與測量，工作效率高。
- 測試特性：
外部量子效率 EQE
光譜回應 SR
I-V 曲線測量
NEP 光譜測量
D* 光譜測量
Noise-current-frequency 回應圖 （A/Hz-1/2; 0.01Hz~1,000Hz）
Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析

 

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