Mini/MicroLED的測試，LumiTop 4000 / 2700 成像色度儀。

產品型號：LumiTop 4000 / 2700

攤位號碼：尚未更新

產品特色

LumiTop 4000 / 2700 – 創新設計，結合成像和光譜測量技術
Instrument Systems 的 LumiTop 4000 和 LumiTop 2700成像光度色度計與 CAS 光譜儀一起用於測量生產線中顯示屏的亮度和色度均勻性。它們還包括一個光電二極管，因此兼具三種不同類型測量儀器的優勢：

型超高分辨率LumiTop具有150兆像素的超高分辨率，可單次拍攝完成整個顯示器的像素級分析。因此，這種創新的測量設備非常適合用於生產線中的OLED或Micro-LED顯示器的快速，非常精確的質量控制和像素校準。集成的像素移位機制通過真正的全彩測量抑制了去馬賽克的偽像，甚至提供了600兆像素的更高分辨率，這使得該設備對於研發也非常有價值。

在光譜點測量方面具有超高準確性
圖像色度測量儀的分析選項
光電二極管的時間分辨率。
專利光學設計允許一次性同時測量所有三個傳感器。準確的光譜測量用作即時參考，並傳輸至攝像機的完整顯示區域。這樣，測量時間極短，並且可在一個測試站中進行所有相關光學測試。

LumiTop 有兩個基本版本：

帶 12 MP RGB 傳感器的 LumiTop 4000 (CMOS)
帶 6 MP RGB 傳感器的 LumiTop 2700 (CCD)
從 LumiTop 2700 發展而來的 LumiTop 4000 可檢測並分析更小的缺陷和不均勻性，與 100 mm 鏡頭配合使用時，可進行單像素分析（有限視場）。由於採用了 HW 觸發器，因此它也適用於採用定時測量過程的應用（例如 µLED 晶圓的光學測試）。其高亮度模式擴展了動態範圍，特別適合測量調製顯示屏和光源（如 OLED 顯示屏）。

LumiTop 2700 / 4000 – 產品特長：
用於生產製程中，顯示屏質量控制的全球公認測量儀器（與 CAS 系列光譜儀結合使用）
提供 600 萬或 1200 萬像素的型號
高測量速度和高測量準確度
豐富的 LumiSuite 軟件（GUI 和 SDK）
全面評估亮度和色度均勻性、色差、像素缺陷、對比度、伽馬曲線、白點、閃爍和亮度調節以及中心點的光譜分析

https://www.instrumentsystems.com/cn/products/imaging-colorimeters/lumitop-2700-4000/

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