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Wafer專用原子力顯微鏡AFM(6-12吋適用)---晶圓粗糙度量測最佳利器

產品型號：LS-AFM

產品分類：

廠商名稱：優鈦科技有限公司

攤位號碼：M334

產品特色

主要特點:　　　　　　　　
1. 大尺寸樣品掃描-----可量測最大樣品至12吋
2. 可座標定位自動下針量測
3. 最經濟實惠的工業型AFM
4. 快速、精準取得奈米表面特徵----五分鐘內可以獲取高解析影像
5. 半導體電子大廠認可採用

目的:
提供三維表面形態影像，包括表面粗糙度、粒徑大小、高度差和間距

品牌: FSM
型號: LS-AFM

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