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首頁 / 參觀資訊 / 2024 參展商產品 / 光學奈米膜厚量測儀

光學奈米膜厚量測儀

產品型號：C13027

產品分類：檢測

廠商名稱：台灣濱松光子學有限公司

攤位號碼：L321

產品特色

採用激光干涉測量和光譜干涉測量的非接觸式高精度厚度測量系統。
特點：
1. 支持PLC連接
2. 縮短循環時間（最大 200 Hz）
3. 能夠測量 10 nm 的薄膜
4. 同時測量厚度和顏色
5. 小型化（與 C12562 相比安裝面積減少 30%）
6. 涵蓋廣泛的波長范圍（400 nm 至 1100 nm）
7. 軟件中添加了簡化的測量
8. 能夠進行表面分析
9. 波動膜的精確測量
10. 分析光學常數 (n, k)
11. 映射函數

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