CSI AFM/全球最佳電性量測AFM (高解析PFM/KFM/EAFM/CAFM/SThM ) KPFM表面電位量測
產品型號:Nano observer, ResiScope II AFM
產品分類:化合物半導體材料/設備
廠商名稱:優鈦科技有限公司
攤位號碼:M334
產品特色
主要特點:
1. 完整且強大的電性量測功能與擴充性(PFM壓電力/KFM 表面電位/EFM 靜電力/CAFM 導電/SThM 顯微熱傳導量測 等)
2. 獨家專利技術高解析KFM--極高的解析度,提高表面電位的測量靈敏度。
3. 透過ResiScopeTM模式掃描(可獲得10個數量級的電流、電阻資訊)
4. 免更換掃描器,大範圍掃描,樣品相容性極佳,XY :100 μm,Z: 15 μm (±10%),高解析度(最高可達8192*8192),輕鬆取得分子級影像
5. 研發與品保進行故障分析、品質檢定、電性分析、力學檢測的重要工具
目的:
提供三維表面形態影像,還有分析電特性(CAFM、KFM表面電位檢測)、電場(EFM)和磁場(MFM)、SThM (顯微熱傳導量測)、Adhesion, Stiffness, Young’s Modulus
品牌: CSI
型號:Nano-Observer
累積了20年的經驗,法國CSI研發了這款高性能AFM "Nano-Observer"
Nano_Observer AFM 可以提供所有測量模式,且同時適用於更尖端、複雜的研究,尤其以電學量測技術更領先全球各大品牌,
獨家專利的高解析KPFM(表面電位量測)技術(HD-KFM)讓您輕鬆快速取得高畫質結果,給您前所未有的體驗。
除了高性能,Nano-Observer同時擁有多種先進的模式,可以擴大你的研究領域。除了contact/LFM and Oscillating/ Phase imaging模式之外,還有分析電特性(CAFM)、電場(EFM)和磁場(MFM)、SThM (Thermal conductivity & temperature measurements 熱傳導溫度測量)
此外CSI 的 電學量測控制器,ResiScope II AFM 是一種獨特的雙測量系統,能夠以高分辨率和靈敏度測量 10個數量級以上的電流和電阻。
它可以與多種動態模式整合,如 KFM 單通道 (AC/MAC III) 或 MFM/EFM (AC/MAC 模式),在同一掃描區域提供許多樣品特徵。
通過在導電 AFM 探針(接觸模式)和樣品之間使用直流偏置,可以進行測量。尖端使用 AFM 反饋的雷射偏轉以接觸模式掃描。 ResiScope II 是一個獨立的測量系統,可以通過高性能放大器 (HPA) 測量樣品電阻。
各種應用:
半導體
金屬
太陽能
薄膜&塗層
蛋白質
DNA
高分子聚合物
Specifications
XY scan range 100 μm (tolerance +/- 10%)
Z range 15 μm (tolerance +/- 10%)
XY drive resolution 24 bit control - 0.06 Angströms
Z drive resolution 24 bit control - 0.006 Angströms
Ultra low noise HV Typ : <0.01 mV RMS
6 DAC Outputs 6 D/A Converters – 24 bit
(XYZ drive, bias, aux…)
8 ADC Inputs 8 A/D Converters – 16 bit
Data points Up to 8192
Integrated Lock-in Up to 6 MHz (software limited)
2nd lock-in (6 MHz-optional)
Interface USB (2.0 - 3.0 compatible)
Controller Power AC 100 – 240 V - 47-63 Hz
Operating System Windows 7 to 10
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