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高光譜相機uLED量測方案

產品分類：

廠商名稱：五鈴光學股份有限公司

攤位號碼：L426

產品特色

由於Mini / Micro LED發光效率持續提升、晶粒尺寸和點間距微縮化及像素密度成倍增長的同時，大大提升在生產製程上的技術難度，其中在製程後之顯示模組的色度光學檢測亦屬其生產製程重要的一環，其主要技術點困難簡述如下:

(1) 因檢測數量級的大幅提升，對檢測速度維持上的困難
傳統多LED採單點式檢測，在檢測LED晶粒數量的大幅增加下(100倍以上)，對檢驗速度要維持上造成很大困難。
(2) 因晶粒寸尺微型化，對檢測精度維持上的挑戰
晶粒微型化造成細密度的提高，對於光學檢驗的解析度、精密度要求都相對提高，以輝度為例，以同樣測試要求偏差在3%以內，對於Mini LED來說便是很大的挑戰。

此方案「線推掃式高光譜分光檢測」，高光譜分光檢測是以CCD範圍攝像取像後，透過光栅(Diffraction Grating)將光源分解成不同波長的光，並以傳感陣列器（Sensor Array）測出各別强度以得出光譜，其光譜資料完整及量測準確性高，並藉由GPU平行運算的優勢能夠即時處理並顯示量測結果。

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