0 O/E converter 產品分類:檢測 廠商名稱:高碇科技有限公司 攤位號碼:M132 產品特色 ❑ 測定波長:320~1650 nm。❑ 測定頻率:DC~3.0 GHz。 相關產品 2D輝度色度分析儀 紅外線能量分部測定儀 您可能有興趣的產品 全周輪廓量測儀 MLP-3 色彩照度計、照度計 超高動態範圍光譜儀 微檢測系統 色彩分析儀 CA-527 閃點測試儀 輝度計 LS150/160 ; 色彩輝度計 CS150/160 智動化光學檢測設備-Apacer 宇瞻科技 Wafer Inspection 785nm手持式拉曼光譜儀 面板智動化檢測設備|自動化|AOI檢測-Apacer 宇瞻科技 分光輻射亮度計 CS-3000HDR/CS-3000 便攜式分光光度計 CM-26d 積分球 Spectraval 1511 推掃式紅外高光譜 PMA-12 光子多通道分析儀 照度分光光度計 CL-500A、演色照度計 CL-70F 內嵌式巨觀自動檢測系統 Broadband Spectroradiometer specbos 1211 THOUSLITE LEDCube & LEDView Portman系列 可攜式拉曼光譜系統 Micro LED 全區域光學量測解决方案 光學奈米膜厚量測儀 自動凝膠化時間測定裝置 人氣產品專區 非破壞性SiC缺陷檢測系統 真空式脫泡機 攪拌機 真空式脫泡機 攪拌機 離心式脫泡機 攪拌機 真空式針筒 離心機 檔案安心遊 (Former TFG) 檔案金盔甲 (Former TFG) ITO图案玻璃 SHASHIN KAGAKU 影像膜厚量測系統 SHASHIN KAGAKU 光纖式膜厚監測儀 JASCO 傅立葉轉換紅外線光譜儀 JASCO 紫外光/可見光/近紅外光 分光光譜儀 JASCO 螢光光譜儀 SHASHIN KAGAKU 公轉自轉式攪拌脫泡裝置 Hettich 離心機系列 PRO Scientific 手持式/立式實驗用均質機 Analytik-Jena 半導體檢視用黃光燈 ELMA 雙頻P系列超音波洗淨器 Instrument Systems DMS 顯示測量系統 LumiTop 成像光度色度計 LumiTop AR/VR 近眼顯示器測量 電容式ITO透明導電膜 無膠型超薄銅軟性銅箔基板 卷對卷真空濺射鍍膜代工服務 石墨銅箔散熱膜 透明顯示屏材料-無膠型PET鍍銅膜 客製化PET/PI鍍銅膜-VR設備輕量化材料 客製化卷對卷濺鍍柔性電極薄膜材料 客製化濺鍍型奈米銅導電薄膜材料 回列表