延續成功… Zygo’s 的新型 Qualifire 雷射干涉儀
廠商名稱：台灣阿美特克股份有限公司
發佈日期：2025-03-26
攤位號碼：M935
50 多年來，移相干涉儀一直是高精度表面形狀計量儀器的首選技術。 這些干涉儀可快速可靠地測量光學元件、系統和元件的表面形狀誤差和透射波前。 從研究環境到廣泛的工業應用，雷射干涉儀都能為品質保證和生產後分析提供高水準的資料可追溯性。 它們已成為製造過程中不可或缺的一部分。
Zygo's 的 Qualifire 為此類儀器面臨的已知挑戰提供了解決方案，代表了雷射干涉儀的一次飛躍。
移相干涉測量新方法
菲佐設計是許多現代系統中常見的光學計量方法，它使用一個固定的同軸相干點光源來照亮干涉腔。 在大多數情況下，這種設計都非常有效。 雖然移相和固定照明仍是黃金標準，但 Zygo 一直在尋求改進，並通過新的飛點選項探索了動態照明的優勢。
Qualifire 雷射干涉儀具有許多新穎的功能。
- 飛點: 新的同調光減少偽影技術
- Plano Cavity 自動對焦
- 穩定變焦
- 智慧附件
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