Micro LED芯片經巨量轉移貼合於驅動背板後經加工制作成Micro LED顯示器模塊，Micro LED 顯示器模塊主要有2種形式，一種為使用R（紅）G（綠）B（藍）三種LED芯片排列方式，另一種為B（藍）色LED或UV-LED芯片搭配QD（量子點）或熒光體使其波長轉換成R（紅）色或G（綠）色，即所謂的色轉換方式。模塊的光學品質評價方法，與LCD及OLED等顯示屏測量手法大多相同，使用亮度計作為測試光學設備，評價亮度，色度甚至光譜。

R（紅）G（綠）B（藍）三種LED芯片排列方式的顯示器模塊，R（紅）G（綠）B（藍）LED芯片其各自電流、電壓、反應速度都不一樣，控制覆雜，子像素間（RGB  LED芯片間）容易產生光學質量、亮度及顏色的差異，特別顏色差異為一大課題，主波長及峰值波為重要的評價項目，傳統帶有光譜的亮度計為單點測量方式，一點一點測量效率不高，對位不易，測量問題點有待突破，但若使用Topcon的2D分光輻射計SR-5100，其微距鏡頭機型擁有10微米以下的分辨率，搭配變焦鏡頭調整擴大測量視野，在兼顧分辨率及視野的條件下，可對模塊全體發光狀態一次測量及確認。搭配軟件的發光點自動抽出功能，可一次抓取模塊面內子像素的亮度、色度、光譜等數據。可評價一顆顆LED芯片個體差異所造成的子像素差異、其差異影響Micro LED顯示器的性能。

色轉換方式顯示器模塊，相較於R（紅）G（綠）B（藍）三種LED芯片排列方式，芯片間電壓及電流較容易控制，但塗在藍色LED上的紅(R)、綠(G) QD（量子點）或蛍光體，其粒子間隙若漏出藍光，會造成G(綠)或R(紅)的發光里產生藍色光譜能量，造成混色的狀態。以混色為起因的顏色變化、會大幅的影響色域的表現。漏光所產生的混色現象存在於芯片面內部分區域，一般CCD或XYZ濾片式亮度計則無法檢測其現象，使用Topcon的2D分光輻射計SR-5100搭配金屬顯微鏡可檢測漏光的狀態。2維分光輻射計SR-5100搭配20倍的金屬顯微鏡下、以高達 0.16μm/Pixel的分辨率取得光譜數據、評價LED芯片的面內的亮度、色度、光譜的差異以檢證混色區域。