• 碳化矽晶圓老化

     

    營運長

    Pentamaster Instrumentation Sdn. Bhd.

     

     

    主題

     

    碳化矽晶圓老化

     

    講師簡介

     

    經歷：
    • 在電腦視覺和半導體檢測解決方案方面擁有超過 25 年的經驗。
    • 在感測器、成像、光學和光子產品的測試和測量方面擁有超過 10 年的經驗。
    • 在碳化矽晶圓、晶片、封裝和模組的老化、測試和測量方面擁有超過 4 年的經驗。
    • 具備檢驗測試軟體平台、測試硬體、高電壓大電流測試測量硬體的研發經驗。
    • 擁有管理多元化工程團隊的經驗，包括研發、硬體設計、韌體、軟體、成像、光學、測試、機械設計、生產、品質、客戶服務、業務開發和其他工程營運。

     

    演講大綱

     

    Pentamaster碳化矽晶圓級老化是製造過程中的關鍵步驟，可確保可靠性、穩定性和使用壽命。它可以檢測早期故障，消除缺陷，在極端高溫下進行壓力測試，提供資訊以了解性能漂移和洩漏，並為全面提高產品品質和性能提供途徑。
    Pentamaster SiC WLBI在一個系統中提供 HTRB 和 HTGB，僅使用單一探針卡，並且完全自動化運行，無需操作員幹預，從而簡化了生產流程。