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首頁 / 參觀資訊 / 2024 參展商產品 / Chip On Wafer / Carrier 晶粒檢量測機

Chip On Wafer / Carrier 晶粒檢量測機

產品分類：

廠商名稱：晶彩科技股份有限公司

攤位號碼：L625

產品特色

1, AI 即時檢量測與分類；支援4”/6” Wafer & Panel型式基板
2, 檢測項目：晶粒缺陷、損傷、髒污、刮傷、缺晶
3, 晶粒巨量轉移後精度量測 : 位移、旋轉

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